Ciclo de conferencias 'Investigadoras de prestigio' | Montserrat Nafría: 'Variabilidad y fiabilidad en nanoelectrónica: mitigación y explotación'

Las extraordinarias capacidades de los chips que impulsan los sistemas electrónicos que forman parte de nuestra vida cotidiana son la consecuencia de las prestaciones de los dispositivos con los que se han fabricado, cuyas dimensiones se sitúan en el rango nanométrico. Ahora bien, estos dispositivos adolecen de una elevada variabilidad, lo que impacta negativamente a la fiabilidad de los chips en que se integran. En esta charla se presentarán los retos actuales a los que la nanoelectrónica se enfrenta para la caracterización, modelado y simulación de esta variabilidad, desde dos puntos de vista complementarios. Por un lado, la mitigación de los efectos de esta variabilidad, necesaria para asegurar la fiabilidad de los chips y, por otro, su explotación en aplicaciones de seguridad, para la generación hardware de claves criptográficas. Se presentarán algunos ejemplos de metodologías para la mitigación o explotación de esta variabilidad.

Biografía

Montserrat Nafría es catedrática en el Departamento de Ingeniería Electrónica de la Universidad Autónoma de Barcelona. Su principal área de investigación es la fiabilidad de dispositivos y circuitos electrónicos. Actualmente, trabaja en la caracterización y modelado de la variabilidad dependiente del tiempo de dispositivos CMOS de nodos tecnológicos avanzados, para el desarrollo de simuladores de fiabilidad de circuitos integrados. 

Su experiencia se está extendiendo a otras tecnologías emergentes, como los memristores para aplicaciones neuromórficas, dispositivos basados en grafeno y transistores de capa delgada para electrónica flexible. Es autora o coautora de más de 400 artículos de investigación en revistas y conferencias científicas y ha formado parte de los comités técnicos de las principales conferencias en los campos de la fiabilidad y los dispositivos, como IRPS, INFOS y ESSDERC.